電壓擊穿試驗(yàn)儀瞬態(tài)脈沖
電壓擊穿中的瞬態(tài)脈沖產(chǎn)生的機(jī)理
電容C每次擊穿觸點(diǎn)時都要向電源回路反向充電，因此在電源回路上形成很大的脈沖電流，由于電源回路也有阻抗存在，脈沖電流通過電源回路時，在其兩端就要形成脈沖電壓，而共用此電源回路的其它的電路(或繼電器及裝置就要受到該脈沖電壓的影響。
這就是瞬態(tài)脈沖騷擾形成的原因。
隨著觸點(diǎn)間隙的變化，擊穿觸點(diǎn)間隙所需要的電壓是變化的。
當(dāng)觸點(diǎn)間隙越來越大時，擊穿電壓越來越高。因此電容C上的電壓也要越來越高。
當(dāng)觸點(diǎn)擊穿所需要的電壓越高時，電容充電的時間就越長，振蕩波形的頻率就越低。
在開關(guān)斷開電感負(fù)載電路的過程中，在電感上要產(chǎn)生反電勢。
根據(jù)楞次定律：這個反電勢應(yīng)為。反電勢要向寄生電容C反向充電，隨著充電電壓的升高，當(dāng)達(dá)到一定數(shù)值時，在觸點(diǎn)之間要出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象，形成導(dǎo)電通路。
一旦出現(xiàn)導(dǎo)電通路時，電容C就要開始放電，使電壓下降，當(dāng)電壓降到維持觸點(diǎn)導(dǎo)通電壓以下時，觸點(diǎn)又將處于斷開狀態(tài)。
上述過程就要重復(fù)發(fā)生，此過程重復(fù)到觸點(diǎn)的間距大至電容上電壓不能使觸點(diǎn)間再擊穿為止。
當(dāng)電容不能通過擊穿觸點(diǎn)放電時，就通過電感回路放電，直至電感中能量消耗完為止。
標(biāo)簽：
電壓擊穿試驗(yàn)儀
介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
高電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
