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  • PCD空化測(cè)式儀
    PCD空化測(cè)式儀

    PCD空化測(cè)式儀具有非常高聲幅,來自空化事件的聲發(fā)射可以是幾個(gè)數(shù)量級(jí)量級(jí)更小。因此需要高靈敏度傳感器來測(cè)量這些低水平的空化產(chǎn)生的信號(hào)。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • KOWOVAC真空泄漏測(cè)試儀
    KOWOVAC真空泄漏測(cè)試儀

    KOWOVAC真空泄漏測(cè)試儀可以對(duì)儲(chǔ)罐、管道和許多其他焊接結(jié)構(gòu)中的焊縫進(jìn)行快速、安全的泄漏測(cè)試。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • PT1疏水閥測(cè)試儀
    PT1疏水閥測(cè)試儀

    PT1疏水閥測(cè)試儀用于測(cè)量振動(dòng)(超聲波)和溫度,以及用于蒸汽疏水閥、閥門和軸承的基本操作判斷。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • Kowotest ASTM E2737 5槽楔測(cè)試塊
    Kowotest ASTM E2737 5槽楔測(cè)試塊

    Kowotest ASTM E2737 5槽楔測(cè)試塊符合 ASTM E2737 的 標(biāo)準(zhǔn),這些5槽楔塊易于設(shè)置和使用。符合 ASTM E2737 的通用測(cè)試楔 - 有四種版本。選擇基于應(yīng)用中使用好的材料。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • Kowotest 39 X射線分辨率測(cè)試卡
    Kowotest 39 X射線分辨率測(cè)試卡

    Kowotest 39 X射線分辨率測(cè)試卡符合ASTM E 2445-05第5.1.3節(jié)的要求。隨附符合性證書。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • 5142附著力測(cè)試儀
    5142附著力測(cè)試儀

    附著力測(cè)試儀是便攜式手動(dòng)操作儀器可在任何位置使用,無需外部電源——非常適合實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)使??用,以 PSI 和 MPa 為單位輕松輕松地進(jìn)行大規(guī)模讀數(shù)。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • DOF 5-15景深測(cè)試板
    DOF 5-15景深測(cè)試板

    景深測(cè)試板可把測(cè)量光學(xué)公差標(biāo)準(zhǔn)化,否則大部分情況下是靠理論計(jì)算的。我們的大量光學(xué)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)表明,通過理論計(jì)算的景深經(jīng)常導(dǎo)致令人費(fèi)解的結(jié)論。這個(gè)測(cè)試板解決了這個(gè)問題,可以精確的確定產(chǎn)生一個(gè)不能接受的圖像時(shí)目標(biāo)的偏移量。關(guān)于可以接受的清晰度,則要根據(jù)使用者和應(yīng)用領(lǐng)域來確定。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • RT RC-05B分辨率測(cè)試卡
    RT RC-05B分辨率測(cè)試卡

    分辨率測(cè)試卡是一款采用半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • 眾???01X射線安檢儀測(cè)試箱
    眾???01X射線安檢儀測(cè)試箱

    X射線安檢儀測(cè)試箱用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力;測(cè)試箱B為材料分辨測(cè)試體,用于測(cè)試設(shè)備的有機(jī)物分辨、灰度分辨、混合物分辨、無機(jī)物分辨、材料分辨和有效材料分辨。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • ZYK-F792-08X射線測(cè)試安檢箱
    ZYK-F792-08X射線測(cè)試安檢箱

    X射線安檢箱用于使用多個(gè)X射線試件在九個(gè)不同的測(cè)試區(qū)域中校準(zhǔn)和評(píng)估X射線篩查系統(tǒng)的性能水平。

    更新時(shí)間:2025-06-30
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