薄膜工頻介電常數(shù)測試儀北京供應商
型 號GDAT-A
更新時間2024-11-21
廠商性質生產廠家
報價
產品概述
介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及 IEC60250規(guī)范要求。 GDAT 系列介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介 電常數(shù)(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。 GDAT系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析 儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗 值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。 1 特點： |
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105
2 主要技術指標：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋
型號 | GDAT-S |
工作頻率范圍 | 20Hz～1MHz 數(shù)字合成，精度：±0.02% |
電容測量范圍 | 0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 |
高頻介質樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
|
選購件：
在現(xiàn)行高頻介質材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質
樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚
1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
- 上一個： 橡膠薄膜耐電壓擊穿試驗儀
- 下一個： 漆膜直顯體積電阻率試驗儀*
